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Maurizio Zani - http://www.mauriziozani.it

Tesi

Tesi di dottorato

  • a.a. 2022-2023, XXXVI ciclo

    Dottorando: Serena Benelli
    Supervisor: prof. Stefano della Torre, prof. Ezio Puppin

    Politecnico di Milano, Dip. di Architettura, Ingegneria della Costruzioni e Ambiente costruito – Dip. di Fisica
  • a.a. 2022-2023, XXXVI ciclo

    Dottorando: Roberto Mazzola
    Tutor: prof. Marco Finazzi

    Politecnico di Milano, Dip. di Fisica
  • a.a. 2019-2020, XXXIII ciclo

    Dottorando: Matteo Bozzi
    Tutor: prof. Paola Taroni

    Politecnico di Milano, Dip. di Fisica
  • a.a. 2017-2018, XXX ciclo
    Ultrafast Scanning Electron Microscopy. Charge dynamics at semiconductor and insulator surfaces
    Dottorando: Vittorio Sala
    Tutor prof. Marco Finazzi
    Supervisor prof. Alberto Tagliaferri

    Politecnico di Milano, Dip. di Fisica
  • a.a. 2010-2011, XXII ciclo
    Investigation of Ge surface diffusion and SiGe nanostructures by spectro-microscopy techniques
    Dottorando: Giovanni Maria Vanacore
    Tutor prof. Franco Ciccacci
    Supervisor prof. Alberto Tagliaferri

    Politecnico di Milano, Dip. di Fisica

 

Tesi magistrale

  • a.a. 2018-2019
    Characterization of surface charge recombination of Si p-doped surfaces by USEM technique
    Tesista: Michele Battaglia
    Correlatore: prof. Alberto Tagliaferri, dr. Silvia Pietralunga

    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria materiali e nanotecnologie (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    Ricostruzione 3D nanoscopica tramite microscopia elettronica a scansione
    Tesista: Vittorio Sala
    Correlatore: prof. Alberto Tagliaferri

    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    Developing of a setup for Ultrafast Electron Microscopy
    Tesista: Guglielmo Facchi
    Correlatore: prof. Alberto Tagliaferri

    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2008-2009
    Crescita per diffusione termica e caratterizzazione di nanostrutture di SiGe su Si(100)
    Tesista: Stefano Molteni
    Correlatore: prof. Alberto Tagliaferri

    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2006-2007
    Micro caratterizzazione chimica tramite spettroscopia Auger
    Tesista: Stefano Montani
    Relatore prof. Alberto Tagliaferri

    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)

 

Tesi triennale

  • a.a. 2018-2019
    Analisi e caratterizzazione nanoscopica delle superfici con il microscopio elettronico a scansione
    Tesista: Giulia Pavese
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2018-2019
    Microscopia elettronica per la caratterizzazione nanoscopica delle superfici
    Tesista: Virginia Oddi
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2018-2019
    Spettro-microscopia per la caratterizzazione nanoscopica delle superfici
    Tesista: Federico Carrara
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2017-2018
    Microscopia elettronica per la caratterizzazione nanoscopica di superfici
    Tesista: Fabio Mensi
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2017-2018
    Microscopia elettronica per la caratterizzazione di superfici inorganiche
    Tesista: Pietro Camisa
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2015-2016
    Tecniche di microscopia elettronica: caratterizzazione dei campioni con il SEM
    Tesista: Marco Valla
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2015-2016
    SEM. Strumentazione, tecniche di utilizzo, osservazione e analisi di campioni
    Tesista: Adele Marchionni
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2015-2016
    Microscopio elettronico a scansione. Principi, utilizzo e applicazioni
    Tesista: Marco Magnaterra
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2014-2015
    Introduzione alla microscopia elettronica a scansione
    Tesista: Giacomo Sala
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria dei industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2014-2015
    Studi sperimentali di microscopia elettronica
    Tesista: Marco Pozzetta
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2014-2015
    Analisi di superficie alla nanoscala tramite microscopia elettronica (SEM)
    Tesista: Giulio Franchini
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    Analisi superficiale di campioni anna nanoscala tramite Microscopia Elettronica a Scansione (SEM)
    Tesista: Giorgio Nicolì
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    Analisi superficiale di campioni mediante Microscopia Elettronica a Scansione
    Tesista: Samuele Mainardi
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    SAM – Scanning Auger Microscopy
    Tesista: Anastasia Leone
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    La spettroscopia Auger per l’analisi elementale della superfici
    Tesista: Isabella Maria Figliolia
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    Analisi chimica di superficie tramite microscopia (SEM) e Auger a scansione (SAM)
    Tesista: Giada Zocchi
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2013-2014
    Microscopia elettronica a scansione e spettroscopia Auger
    Tesista: Maria Elisabetta Coppola
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2012-2013
    Studio delle prestazioni del rivelatore ultravioletto del coronografo di Solar Orbiter
    Tesista: Ivan Straface
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2012-2013
    Microscopia elettronica e spettroscopia Auger
    Tesista: Matteo Moioli
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2012-2013
    SEM – Microscopia e spettroscopia
    Tesista: Remo Lazazzera
    Politecnico di Milano, Scuola ingegneria industriale e dell’informazione, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2010-2011
    Emissione termoionica e pirometri
    Tesista: Bruno Iacovone
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2009-2010
    Emissione termoionica delle superfici e pompe da vuoto
    Tesista: Ivan Orsini
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2009-2010
    Effetto termoionico in tantalio e tungsteno e misura del grado di vuoto
    Tesista: Chiara La Torre
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2009-2010
    Emissione termoionica da superfici di tantalio e tungsteno
    Tesista: Alberto D’Onofrio
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2009-2010
    Laboratorio di emissione termoionica
    Tesista: Lorenzo Cialfi
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2009-2010
    Emissione termoionica e fattori di dipendenza della funzione lavoro
    Tesista: Matteo Albizzati
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2008-2009
    Emissione termoionica e vacuometri a ionizzazione
    Tesista: Francesco Pighi
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2008-2009
    Emissione termoionica e misure non-contact di temperatura
    Tesista: Elisa Faimali
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2008-2009
    Emissione elettronica e vacuometro a ionizzazione a catodo caldo
    Tesista: Denis Zokos
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2007-2008
    Tecniche di deposizione difilm sottili per sputtering
    Tesista: Ileana Malavasi
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2006-2007
    Caratterizzazione e applicazioni tecnologiche del TaAlN
    Tesista: Stefano Molteni
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)
  • a.a. 2005-2006
    Laboratorio Auger: sorgenti elettroniche
    Tesista: Giulio Decataldo
    Politecnico di Milano, Fac. ingegneria dei sistemi, Ingegneria fisica (Milano Leonardo)